近日，航天科工二院203所在2mm頻段在片校準技術研究中取得突破，達到國內領先水平。提升在片S參數(shù)校準能力對于提高我國毫米波器件設計制造水平有著重要的意義，該技術將在車載雷達、跑道異物檢測、風云三號氣象探測有所應用，具有一定經濟效益和社會效益。
      在片S參數(shù)是衡量裸芯片電特性的一個極其重要的指標，它涵蓋了反射與傳輸特性、幅度與相位特性，能對絕大多數(shù)在片器件，如低噪聲放大器、功率單片等裸芯片的電特性進行完全的表征。隨著我國毫米波設計制造水平的不斷提升，目前以實現(xiàn)國產化的毫米波器件有幾十個種類的上百種型號。但相比于國際上先進國家的設計制造水品，我國自行設計研制的毫米波元器件的性能指標還存在著一定的差距。
      開展片上電路的S參數(shù)的計量校準工作，能夠保證量值溯源的準確性，滿足溯源需求，對國內在片S參數(shù)測量校準工作加以規(guī)范。在片S參數(shù)測量能夠跟蹤服務于產品的設計、定型、生產的全過程，確保在片上管芯的研制設計階段，就對該產品的S參數(shù)特性有著準確的測量，避免封裝后測量時封裝和測試架的影響，確保了產品的質量，并縮短了產品的研制周期。

      項目負責人陳婷介紹道，今后203所將全面鋪開在片S參數(shù)校準，申報國家校準檢測能力認可，繼續(xù)開拓計量校準能力市場。